芯片频率的测试方法、装置及系统的制作方法

芯片频率的测试方法、装置及系统的制作方法专利名称：芯片频率的测试方法、装置及系统的制作方法技术领域：本发明涉及电学领域，尤其涉及一种芯片频率的测试方法、装置及系统。背景技术：芯片的频率测试是指根据芯片

芯片频率的测试方法、装置及系统的制作方法 专利名称：芯片频率的测试方法、装置及系统的制作方法 技术领域： 本发明涉及电学领域，尤其涉及一种芯片频率的测试方法、装置及系统。 背景技术： 芯片的频率测试是指根据芯片自身功能正常运行时的最高频率对芯片产品进 行分类的过程。随着深亚纳米制造工艺的发展，由生产制造缺陷所引起的芯片 性能偏差越来越大。一般来说，高性能芯片在生产出来之后，到用户手中之前， 都需要对芯片的频率进行测试，即按照不同的芯片功能频率，对芯片进行评定 和分组，并对芯片的价格进行划分:频率高的，市场价格也高；频率低的，市 场价格也低一些。综上所述，频率测试将对芯片标定不同的工作频率，针对不 同运行环境选择相应频率的芯片，从而降低芯片成本。芯片出现不同频率，通 常是由芯片的线延迟和门延迟在实际生产环境下会有略微的差异造成的。发明 人在实现本发明的过程中发现，传统方法上，芯片频率的评定和分组是通过板 级系统上对芯片进行测试完成的，但是基于板级系统的测试方法比较复杂，而 且在测试的过程中需要人为介入，降低了测试结果的可靠性。另外，该方法用 于大规模芯片频率测试时的成本很高，进而提高了芯片的生产成本。 发明内容 本发明所要解决的技术问题在于提供一种芯片频率的测试方法、装置及系统， 能够提高芯片频率的测试结果的可靠性，并且降低芯片的生产成本。为解决上 述技术问题，本发明芯片频率的测试方法采用如下技术方案:获取与芯片的各 测试路径对应的各个功能测试向量，所述测试路径包括关键路径和有效路径； 将各个所述功能测试向量的格式转换为自动测试仪器支持的格式；将转换后的