谐振式MEMS表面形貌仪探针研究的开题报告
谐振式MEMS表面形貌仪探针研究的开题报告一、选题背景MEMS(Micro-Electro-Mechanical Systems)技术在微纳制造中的应用越来越广泛,已经涉及到生命科学、电子器件、摩擦学
MEMS 谐振式表面形貌仪探针研究的开题报告 一、选题背景 MEMS(Micro-Electro-MechanicalSystems)技术在微纳制造中 的应用越来越广泛,已经涉及到生命科学、电子器件、摩擦学、实验物 理等领域。在MEMS加工过程中,表面形貌是一个非常重要的参数,影 响着MEMS器件的质量和性能。因此,MEMS表面形貌的测量变得越来 越重要。MEMS表面形貌测量的传统方法包括拉曼光谱法、冷场发射扫 描电子显微镜法、原子力显微镜法等,这些方法具有非常高的精度,但 是成本较高,不方便于现场测量。 谐振式MEMS表面形貌仪探针是应用MEMS技术制造的一种新型 表面形貌测量仪器。该测量仪器通过谐振式力传感器的振动,可以实现 对被测样品的表面形貌进行高精度的测量,具有易潜在局部振幅测量、 面积大、精度高、分辨率高等优点,因此被广泛应用于MEMS加工和表 面工程等领域。 二、选题意义 MEMS表面形貌是MEMS器件性能和质量的重要参数,而表面形 貌测量仪器是评估MEMS表面形貌的关键。谐振式MEMS表面形貌仪 探针技术是一种新型的表面形貌测量技术,具有较高的精度和分辨率, 逐渐成为MEMS表面形貌测量的主流方法,具有广泛的应用前景。 三、研究目标 本研究的主要目标是设计和制造一种谐振式MEMS表面形貌仪探 针,并对该探针进行测量实验。具体研究内容如下: 1.确定谐振式MEMS表面形貌仪探针的结构设计和工艺制造方案; 2.利用MEMS技术制造探针和信号读出线路,在探针上安装压电陶 瓷驱动器,实现探针的振动,利用谐振式力传感器实现对探针振动状态 的测量;

