由被测电路自己产生测试向量的自动测试生成方法研究的综述报告

由被测电路自己产生测试向量的自动测试生成方法研究的综述报告随着电路设计的复杂化，传统的手动测试已经无法满足需求。因此，自动测试生成方法的研究成为当今电路测试领域的热点之一。其中，由被测电路自己产生测试