IRB-50中文手册

IRB-50 中文手册IRB-50红外晶锭探伤仪可以探测到硅锭内部的微小裂缝、微晶、杂质等缺陷。可以确定内部缺陷的具体位置。它用于多晶硅片生产中的硅块的裂缝、杂质、黑点、阴影、微晶等缺陷检测。主要由红