基于瞬态温升技术多通道系统级热阻测试仪研究与开发的开题报告

基于瞬态温升技术多通道系统级热阻测试仪研究与开发的开题报告一、选题背景随着电子产品的快速发展，电子设备的功耗也与日俱增。在使用过程中产生了越来越多的热量，同时也给散热设计带来了更大的挑战。热阻是描述热