深亚微米抗辐照EEPROM单元及ESD设计的开题报告

深亚微米抗辐照EEPROM单元及ESD设计的开题报告1. 研究背景随着集成电路技术的不断发展，电子设备的性能在不断提升，尤其是在航空航天、卫星通讯等领域，对器件的可靠性和稳定性有着更高的要求。然而，辐