ICT测试盲点问题和PCB测试点设计

ICT测试盲点问题不可测零件或不稳定测试程序 〔电容〕： 1.小电容并联大电容：C1＝1nf ， C2＝1uf　（相差10倍以上）， 　　　　　　　　　　 C1《《 C2 ， C1无法准确测量。