存储器技术-嵌入式存储器的两种可测性设计方式

嵌入式存储器的两种可测性设计方式黄禄惠成都三零嘉微电子有限公司摘要：MBIST 是针对一个或多个内嵌存储器创建 BIST 测试逻辑电路，以此来达到测试的目的；MacroTest 通过将用户自定义的测试