智能卡抗干扰测试系统的研究的中期报告

智能卡抗干扰测试系统的研究的中期报告中期报告:一、研究进展智能卡抗干扰测试系统是一个针对智能卡的干扰测试系统,侧重于对智能卡芯片接口的抗干扰性能进行测试和分析。在进行中期研究后,研究团队已经完成了以下

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