一种BIST测试激励的聚类移位压缩方法

一种BIST测试激励的聚类移位压缩方法摘要半导体芯片因其高密度、高速率和高度集成的特性，要求在生产过程中进行可靠性测试，以确保其正常工作。内置自测（BIST）是在芯片设计中广泛使用的技术，可在整个芯片