2.3 IC测试要求和步骤(精)

IC 测试要求和步骤一、测试原理:对于基于 CMOS 工艺制造的 IC 芯片,T3Ster 系统可以进行瞬态热测试,并进而得出散热路径上的结构函数。使用 CMOS 工艺制造的芯片,在进行瞬态热测试的时

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