纳米电子系统容变化与容错问题研究的开题报告

纳米电子系统容变化与容错问题研究的开题报告一、背景与目的随着纳米电子技术的发展，器件尺寸不断缩小，系统集成度逐渐提高，从而带来设备性能的显著提升。但随着器件尺寸的继续缩小，器件故障率及容错机制的研究成