基于区域生长法的QFP芯片引脚缺陷检测算法

基于区域生长法的QFP芯片引脚缺陷检测算法基于区域生长法的QFP芯片引脚缺陷检测算法摘要：QFP芯片引脚缺陷检测对于芯片的良率维护和质量控制至关重要。本论文提出了一种基于区域生长法的QFP芯片引脚缺陷