基于干涉条纹特征的相移相位测量方法研究的开题报告

基于干涉条纹特征的相移相位测量方法研究的开题报告一、研究背景与意义相移相位测量技术是光学测量中的一种重要手段，被广泛应用于光学制造、光学测试等领域。它利用干涉条纹信号来实现对被测对象相位的测量和计算，