基于USB与FPGA的边界扫描测试卡研究的中期报告

基于USB与FPGA的边界扫描测试卡研究的中期报告一、研究背景和意义边界扫描测试技术是一种用于检测和验证集成电路的设计和制造的方法。该技术通过在电路中插入一组可控制的扫描链，实现对整个电路的测试覆盖。