椭偏法测薄膜厚度

椭偏法测薄膜厚度姓名:孙国防 班级:12理工实验班(2)班 实验目的 1. 测量透明介质薄膜厚度和折射率。 2. 测量布儒斯特角，验证马吕斯定律及偏光分析等偏振实验。实验原理