IC晶片缺陷检测的数字图像去噪和分割改进算法的中期报告

IC晶片缺陷检测的数字图像去噪和分割改进算法的中期报告中期报告一、项目简介本项目旨在研发一种新的数字图像去噪和分割算法，用于IC晶片缺陷检测。该算法旨在提高IC晶片检测的准确性和效率。二、项目进展1.