XPS分析技术

1&1引言固体表面分析业已发展为一种常用的仪器分析方法，特别是对于固体材料的分析和元素化学 价态分析。目前常用的表血成分分析方法有:X射线光电子能谱(XPS),俄歇电子能谱(AES), 静态二次离子质