芯片级ESD测试方法研究与比较的开题报告

芯片级ESD测试方法研究与比较的开题报告1. 研究背景随着现代电子技术的不断发展，芯片级ESD问题也越来越受到关注。在芯片制造过程中，由于工艺制约以及环境因素等原因，芯片受到ESD（静电放电）的影响可