数字集成电路测试压缩方法研究的综述报告

数字集成电路测试压缩方法研究的综述报告数字集成电路（IC）的测试是确保IC按照预期执行要求的关键步骤之一。随着IC设计规模的增加和制造流程的精度与复杂性的提高，IC的测试变得越来越复杂。IC测试的时间