半导体材料少数载流子寿命虚拟测试系统的研究的中期报告

半导体材料少数载流子寿命虚拟测试系统的研究的中期报告中期报告：1. 研究背景半导体器件的性能和可靠性与其材料的质量和特性有很大的关系。其中，少数载流子寿命（minority carrier lifet