开设半导体物理器件实验课讲义

高频光电导衰退法测量少子寿命 半导体单晶霍尔系数和电导率测量 MIS结构的高频C—V特性测量 几种半导体器件直流参数的测量头验一隔频光电导最退法测量硅（错）单晶少子寿命一、 实验目的半导体材料中的非平