8140638_纪旋_基于低秩稀疏结构分解的纺织品瑕疵检测_大论文修改

摘 要现有的纺织品瑕疵检测算法多采用传统的模式识别方法，如统计法、频谱法和训练法等。近些年来，低秩稀疏结构分解模型在显著性检测等领域得到了广泛的应用。低秩稀疏矩阵结构分解模型将待检测的特征图像矩阵分解