集成电路自动化测试系统的开题报告

集成电路自动化测试系统的开题报告一、选题背景及意义随着集成电路行业的不断发展，各种应用场景下的集成电路的复杂程度不断提高，集成电路测试也面临着越来越高的要求。传统的手动测试方式已经不能满足快速、高效、