高频MOS电容-电压测量

实验七 高频MOS电容—电压测量目的：用MOS电容—电压法测定氧化层中可动离子，估计半导体杂质浓度。原理：一、理想的MOS结构的C—V曲线理想的MOS结构的能带及MOS结构见图（a）、（b）。这里假