多孔薄膜介电常数的测试方法研究
多孔薄膜介电常数的测试方法研究导言随着电子技术的不断发展,时代对于电子元器件的要求越来越高,如稳定性、可靠性、小型化等等,其中关键的设计参数之一就是介电常数。因此,准确地测量多孔薄膜的介电常数是电子元
多孔薄膜介电常数的测试方法研究