IC测试原理解析第一部分-芯片测试

IC测试原理解析 (第一部分)本章主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理, 内容覆盖了基本测试原理,影响测试方案的基本因素以及IC测试中的常用术语。 第一章 数字集成电路测试的基本原理

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