基于空间干涉的透明薄膜折射率测量装置及方法

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 CN 109187433 A(43)申请公布日 2019.01.11(21)申请号 201810974484 .8(22)申