一种由被测电路自己施加测试矢量的BIST方法研究的中期报告

一种由被测电路自己施加测试矢量的BIST方法研究的中期报告本研究旨在研究一种基于被测电路自己施加测试矢量的BIST（Built-In Self-Test）方法。该方法通过在设计时向被测电路中添加一些特