MOS器件偏压热不稳定性的机理和建模技术研究的任务书

MOS器件偏压热不稳定性的机理和建模技术研究的任务书任务书一、任务背景现代电子技术中，MOS（MOSFET）器件广泛应用于各种电路中，如功率放大器、放大器、开关电路等。然而，在MOS器件使用过程中，其