成像式CCD尺寸检测SoC的前端设计的中期报告

成像式CCD尺寸检测SoC的前端设计的中期报告一、研究背景随着半导体工艺的不断进步，CCD技术广泛应用于成像领域。CCD（Charge-Coupled Device）是一种基于电荷耦合模拟技术的电子器