Nafion修饰金膜玻碳电极溶出伏安法测定痕量Se(Ⅳ)的研究

Nafion修饰金膜玻碳电极溶出伏安法测定痕量Se(Ⅳ)的研究摘要：本文通过将Nafion修饰在金膜玻碳电极表面上，采用溶出伏安法对痕量的Se（Ⅳ）进行测定。实验结果表明，该方法对Se（Ⅳ）具有较好的