变长重复播种BIST与SoC测试的开题报告

变长重复播种BIST与SoC测试的开题报告一、选题背景随着集成电路设计的复杂度不断提高，测试变得越来越重要。测试的主要目的是确保集成电路的正常功能和正确性，保证产品质量。集成电路测试主要包括开发过程中