分束比对迈克尔孙干涉仪条纹可观测性影响的研究

分束比对迈克尔孙干涉仪条纹可观测性影响的研究迈克尔孙干涉仪是一种常见的干涉仪器，用于测量光学元件的薄膜膜厚、折射率等参数。而分束比对迈克尔孙干涉仪条纹的可观测性则是指在不同的分束比条件下，对条纹进行观