大规模数字集成电路测试算法研究与分析的综述报告
大规模数字集成电路测试算法研究与分析的综述报告数字集成电路的测试是保证电路质量的重要手段之一,测试是在芯片制造完毕后,对芯片进行的一系列严格的检验和验证,以保证芯片达到设计要求的性能和功能,并且同时确
大规模数字集成电路测试算法研究与分析的综述报告