基于IEEE1149.4的混合电路边界扫描测试系统的研究与设计的中期报告

基于IEEE1149.4的混合电路边界扫描测试系统的研究与设计的中期报告中期报告一、项目背景混合集成电路（Hybrid Integrated Circuit, HIC）是由多种不同的功能芯片和元器件一

IEEE1149.4 基于的混合电路边界扫描测试系统的研 究与设计的中期报告 中期报告 一、项目背景 混合集成电路（HybridIntegratedCircuit,HIC）是由多种不同的 功能芯片和元器件一体化制造而成，具有高密度、高性能、高可靠性等 优点。边界扫描测试技术（BoundaryScanTest,BST）是一种针对集成 电路进行测试的技术，通过在集成电路的边界上引入控制、数据信号， 将测试数据从一个芯片传递到另一个芯片，实现对集成电路的全局测 试。但是，由于混合集成电路的结构复杂、接口数量多，传统的边界扫 描测试技术难以对其进行全面测试。因此，需要研究一种基于 IEEE1149.4标准的混合电路边界扫描测试系统。 二、研究内容 1、对混合集成电路的原理和结构进行了深入研究，了解了混合集成 电路的特点和测试需求。 2、对IEEE1149.4标准进行了研究，了解了该标准在混合电路测试 中的应用。 3、设计了基于IEEE1149.4的混合电路边界扫描测试系统。该测试 系统由测试控制器、测试寄存器和测试适配器三部分组成。其中，测试 控制器采用XilinxVirtex-6FPGA实现，测试寄存器为HIC中的测试 点，测试适配器用于将IEEE1149.4扫描链连接到HIC中的测试点上。 4、进行了系统的仿真和测试。通过设计的仿真实验，验证了测试系 统的功能和性能。通过在实验室内制作混合电路样品，对测试系统进行 了实际测试，验证了测试系统的可行性和稳定性。 三、进展情况