金属箔式应变片——全桥性能实验

金属箔式应变片——全桥性能实验一、实验目的：了解全桥测量电路优点。二、基本原理：全桥测量电路中，将受力性质相同的两应变片接入电桥对边，不同的接入邻边，当应变片初始阻值：R1= R2= R3=R4，其变