布鲁克Bruker-X射线荧光光谱分析备样技术

- X射线荧光光谱分析技术之二：制样方法 - 制样的目的：1、均匀2、重复性好3、颗粒效应小4、矿物效应小5、无限厚（薄膜法除外） -