基于SAT的VLSI测试向量自动生成技术的开题报告

基于SAT的VLSI测试向量自动生成技术的开题报告一、选题背景及意义随着集成电路技术的不断发展，芯片规模不断扩大，测试向量的数量也呈指数级增长，传统的手工测试向量生成方法难以应对这种情况。因此，需要一