利用分支比方法作真空紫外光谱仪的强度校准

利用分支比方法作真空紫外光谱仪的强度校准真空紫外光谱仪是一种重要的实验设备，常用于材料分析、药物研发、环境监测等领域。为了保证其获得准确可靠的实验结果，强度校准是必不可少的环节之一。利用分支比方法进行

利用分支比方法作真空紫外光谱仪的强度校准 真空紫外光谱仪是一种重要的实验设备，常用于材料分析、药物研 发、环境监测等领域。为了保证其获得准确可靠的实验结果，强度校准 是必不可少的环节之一。利用分支比方法进行强度校准可以有效提高校 准的精度和准确度。本文将详细介绍分支比方法的原理、操作步骤和应 用实例，并探讨其在真空紫外光谱仪强度校准中的优势和局限性。 一、分支比方法的原理 分支比方法是一种常用的强度校准方法，其基本原理是通过比较待 校准系统与已知强度的标准系统之间的比值来确定待校准系统的强度。 在真空紫外光谱仪中，通常使用光强比或者能谱比作为分支比。 光强比法是指通过比较待校准系统与标准系统的测得的光强之比来 确定待校准系统的光强。该方法需要确保待校准系统与标准系统之间的 几何和环境参数相同，例如光路长度、入射角度等。一般情况下，可选 择标准样品作为标准系统，通过测量待校准系统和标准样品的光强值得 到比值，进而确定待校准系统的强度。 能谱比法是指通过比较待校准系统与标准系统的能谱之比来确定待 校准系统的强度。该方法需要保证待校准系统和标准系统之间的光谱分 辨率相同，可以选择具有已知能谱的标准样品作为标准系统，通过测量 待校准系统和标准样品的能谱得到比值，进而确定待校准系统的强度。 二、分支比方法的操作步骤 1. 确定标准系统：选择具有已知强度或能谱的标准样品作为标准系 统。 2. 校准标准系统的强度或能谱：使用已知强度或能谱的标准样品进 行校准，确保标准系统的准确性。 3. 测量待校准系统和标准系统的强度或能谱：分别测量待校准系统 和标准系统的强度或能谱，并记录相关数据。