少数载流子寿命测试

第三章：少数载流子寿命测试少数载流子寿命是半导体材料的一个重要参数，它在半导体发展之初就已经存在了。早在20世纪50年代，Shockley 和 Hall等人就已经报道过有关少数载流子的复合理论[1-4