0.8微米18伏高压工艺开发中的ESD问题研究的任务书

0.8微米18伏高压工艺开发中的ESD问题研究的任务书一、研究背景集成电路器件在使用过程中，会不可避免地遭受静电放电（ESD）的影响，这会导致器件损坏或失效。随着集成电路工艺尺寸的不断缩小，器件对ES