《年轻恒星形成过程的分子谱线诊断》

万方数据第21卷，第4期 vd．21，№．4，pp456—458 为115．271G池处进行，对应于测量00(』=l一0)谱线， 标对天线温度E进行强度定标。用天线效率因子札(= 用天线温度除以效率因