半导体材料能带测试与计算

半导体材料能带测试及计算对于半导体，是指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，其具有一定的带隙(Eg)。通常对半导体材料而言，采用适宜的光激发能够激发价带(VB)的电子激发到导带(CB)，产生电子