基于USB与FPGA的边界扫描测试卡研究的开题报告

基于USB与FPGA的边界扫描测试卡研究的开题报告一、选题的背景和意义现代电子产品的复杂性和功能要求越来越高，因此电路板的测试变得尤为重要。在这个过程中，边界扫描技术是一种非常有效的测试技术，可以帮助