基于1149.7标准的测试生成方法研究

基于1149.7标准的测试生成方法研究摘要本文探讨了基于1149.7标准的测试生成方法研究。该标准是针对具有复杂功能的芯片的测试方法，具有许多优点，如测试时间短、成本低、灵活性高等。本文介绍了1149