BIST测试激励的聚类压缩方法

BIST测试激励的聚类压缩方法概述：BIST测试激励的聚类压缩方法是一种基于测试激励压缩的测试方法，可用于验证集成电路的正确性。该方法通过对测试激励进行聚类，将相似的测试激励压缩为一个激励，从而减少了

BIST 测试激励的聚类压缩方法 概述： BIST测试激励的聚类压缩方法是一种基于测试激励压缩的测试方 法，可用于验证集成电路的正确性。该方法通过对测试激励进行聚类， 将相似的测试激励压缩为一个激励，从而减少了测试时间和测试成本。 关键词：BIST，聚类，压缩 一、BIST简介 BIST是Built-InSelf-Test的缩写，指的是在集成电路中集成测试电 路的一种设计方法。BIST仅需要对核心电路和辅助电路进行测试，不需 要对I/O电路进行测试，从而减少了测试时间和测试成本。BIST测试方 法可以针对不同类型的测试任务设计不同的测试激励，比如诊断电路故 障、测试时序延迟和验证功能正确性等。 二、测试激励压缩技术 测试激励压缩技术通常用于测试时间和测试成本的优化。测试激励 压缩技术可分为两类：(1)依赖于激励压缩器的方法；(2)基于线性扫描 的压缩方法。 聚类压缩方法是一种常用的测试激励压缩技术，它通过聚类相似的 测试激励并将其组合成一个测试激励序列，从而减少了测试激励的数 量。聚类压缩方法可在保证测试质量的前提下，显著减少测试时间和测 试成本。聚类压缩方法的关键是如何定义测试激励的相似性和选择压缩 后的测试激励序列。 三、BIST测试激励的聚类压缩方法 BIST测试激励的聚类压缩方法是一种改进的测试激励压缩技术，它 结合了聚类和依赖于激励压缩器的技术，可有效减少测试时间和测试成 本。该方法的基本思想是：