[计算机]实验一金属箔式应变片性能实验

实验一 金属箔式应变片性能实验——单臂、半桥、全桥电路性能比较测控091 200900304037 黄健华一、实验目的：观察了解箔式应变片的结构及粘贴方式。测试应变梁形变的应变输出。比较各种桥路的性