晶体震荡电路的设计与量测

在半導體製程技術的不斷提升下，產品體積大幅縮小，對功能與運算時脈卻更為要求，因此，本文以晶體震盪電路的設計與量測為題，探討相關特性與技術。 由於科技的日新月異，IC內部的複雜度與精確度較從前大幅提升，