微电子器件与IC的可靠性与失效分析4

微电子器件与IC的可靠性与失效分析——(二)失效机理及其预防措施(小结)[Ⅱ] 2010-06-08 08:29:57| 分类:微电子电路| 标签:衬底寄生晶体管mos ic|字号订阅 (IC的失效机